有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀相關(guān)說(shuō)明

1、在實(shí)際測(cè)量時(shí)所測(cè)波形往往比理論波形差，尤其在有繞組測(cè)量時(shí)，這是因?yàn)樵跍y(cè)量時(shí)變壓器繞組的電感、電容參數(shù)造成的振蕩信號(hào)，以及分接開(kāi)關(guān)的機(jī)械振動(dòng)，使所測(cè)波形呈現(xiàn)出一些波動(dòng)，這種情況在實(shí)際測(cè)試時(shí)是無(wú)法避免的。有些新開(kāi)關(guān)由于開(kāi)關(guān)接觸點(diǎn)上保護(hù)油膜在低電壓下呈顯現(xiàn)絕緣性；以及使用年限較長(zhǎng)，開(kāi)關(guān)接觸點(diǎn)有氧化現(xiàn)象的開(kāi)關(guān)，在測(cè)試時(shí)波形可能，這也屬正?，F(xiàn)象。可以在該檔上多切換幾次開(kāi)關(guān)，使氧化層變薄，增加接觸面積，再用儀器進(jìn)行測(cè)試，可能會(huì)避免這種現(xiàn)象。

2、還有一種現(xiàn)象就是超量程測(cè)試，如測(cè)試開(kāi)關(guān)的過(guò)渡電阻大于9Ω，而選量程為9Ω時(shí)進(jìn)行測(cè)量，結(jié)果會(huì)出現(xiàn)如圖二十一所示的波形。 這時(shí)光標(biāo)1所指示處的過(guò)渡電阻有可能正常，光標(biāo)2所指示處的過(guò)渡電阻顯示為50.0Ω，這是由于超量程所致，只需把量程改為30Ω再進(jìn)行測(cè)試即可。也可能過(guò)渡過(guò)程中間過(guò)程為平直線均為50.0Ω，也是超量程所至，則也只需改變量程為30Ω即可。

3、當(dāng)進(jìn)行無(wú)繞組測(cè)量，沒(méi)有變壓器繞組的分布參數(shù)影響，波形會(huì)比較接近理論波形，當(dāng)用戶所測(cè)波形曲線不平直時(shí)，多數(shù)情況為機(jī)械傳動(dòng)原因，并不是開(kāi)關(guān)或儀器測(cè)試有問(wèn)題。如出現(xiàn)斷點(diǎn)，斷點(diǎn)處波形回到底部，則要謹(jǐn)慎對(duì)待。

4、有時(shí)在開(kāi)關(guān)切換時(shí)有瞬間斷點(diǎn)，這時(shí)波形即被壓成一條近似平直的直線，這種情況是本儀器處理所致。當(dāng)移動(dòng)光標(biāo)2讀三相波形曲線各點(diǎn)時(shí)，同樣能看到切換各時(shí)段電阻的變化，但這種情況重新測(cè)試。 當(dāng)波形出現(xiàn)異常的下跳點(diǎn)并且持續(xù)時(shí)間在2ms以上時(shí)，應(yīng)檢查該處的電阻值，如果電阻值超過(guò)50Ω，很可能存在接觸不良或有松動(dòng)處，這時(shí)，應(yīng)反復(fù)進(jìn)行多次測(cè)試，以便判斷。

有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

符合DL/T846.8-2004標(biāo)準(zhǔn)

1、三路獨(dú)立測(cè)試電源，輸出電流I≥1A；

2、儀器采樣率10KHZ；

3、單次波形zui大存儲(chǔ)時(shí)間268.8毫秒；

4、過(guò)渡電阻測(cè)量范圍：0.1-200Ω；

5、電阻測(cè)量精度：0.1～1 Δ R≤0.1Ω; 1Ω～200Ω(（不含1Ω）ΔR≤±1%。

6、時(shí)間測(cè)量精度：ΔT≤0.1mS；

7、顯示器：320*240；

8、處理部分：高速32位微處理器，儀器能保存100條數(shù)據(jù)；`

9、高速12位6通道同步A/D轉(zhuǎn)換器，zui高采樣率可達(dá)250KHZ；

10、電源：220V±10%，功率：200W。

11、主機(jī)尺寸：380mm×262mm×120mm。